Omron光电传感器新品上市！ 在智能制造时代，光电传感器如同工业设备的"视觉神经"，而欧姆龙作为全球工业传感领域的标杆品牌，其产品组合为工业自动化提供了精准的感知解决方案。作为中国区核心合作伙伴，江苏蓬生电子通过本地化服务网络，为制造企业构建高效可靠的传感应用体系。 目前江苏蓬生电子官网Omron光电传感器系列正在上新，欢迎登录官网一键查询（https://www.pellson-js.com/brandView/Omron.html）

大深光纤传感器及光纤放大器在日化行业的应用十分广泛，特别是在折叠机、灌装机、堆叠机、包装机等关键设备中发挥着重要作用。 一、大深光纤传感器在日化行业的应用 1. 折叠机 作用：光纤传感器在折叠机中主要用于检测和控制折叠过程中的位置、角度和速度等参数。 优势：具有高精度、高灵敏度和抗电磁干扰等特点，能够确保折叠过程的准确性和稳定性。 2. 灌装机 作用：在灌装机中，光纤传感器用于检测液体或膏体的液位、流量以及灌装容

深圳大深传感科技有限公司于2017年创立，公司注册地位于深圳市光明区凤凰街道凤凰社区观光路2533号B6栋5B，是一家专注传感器研发、制造及销售的国家高新技术企业。深圳大深传感科技有限公司已获得国家高新企业认证、ISO9001质量管理体系资质认证、科技型中小企业、创新型中小企业等荣誉，并获50多项自主研发的知识产权。2024年深圳大深传感科技有限公司以“大深工业传感器--为高端装备打造中国之眼”项目参加第十六届中国深圳创新创业大赛光

🌟**未来已来，触手可及！** 2024年3月31日至4月2日，深圳国际传感器与应用技术展将在深圳会展中心（福田）盛大启幕。 作为科技界的盛会，本次展会汇聚了全球顶尖的传感器技术与创新应用。 大深展位8B113，期待与您一同探索传感科技的新边界，见证未来传感科技的无限可能！

大深传感器：感知未来，触达无限可能 在万物互联的时代，感知是连接物理世界与数字世界的桥梁。大深传感器，作为感知领域的先锋力量，致力于为各行各业提供精准、可靠、智能的传感解决方案，赋能产业升级，共创智慧未来。 大深传感器，以“深”度感知，成就“大”不同： 深度创新，引领技术前沿： 大深传感器深耕传感领域多年，始终坚持自主研发，突破技术壁垒，在光学传感、图像识别、环境感知等领域取得多项突破性成果，产品性能

大深传感器生产优势！ 1、拥有独立模具注塑车间 首创MCSOP研发制造平台，形成传感器模具、电路、软件、光学、工艺全流程的自主能力；自有模具加工中心及注塑车间，针对系列产品，自主开模注塑，结构标准化；高精度模具，结构坚固，检测稳定，防护级别IP67 2、严格按照ISO9001生产体系，建立了高标准自动化生产流程 日本工艺水平保障；拥有完整而稳定的元器件供应链；独立开发全自动焊接设备；配备组装、测试等高标准自动化产线，可迅速提

大深产品零盲区检测技术 大深零盲区检测专利技术，被检测物体无处遁形，适用于各类不规则物体检测，扩展应用场景。无论是复杂颜色还是不同材质，都能进行精准识别。 大深产品行业最强抗光，电磁干扰能力 大深产品具备出色的抗光干扰（10,0000lux光照度下稳定工作）和抗电磁干扰能力，能够在复杂环境中稳定工作。 大深产品一体成型制造技术 行业内仅欧姆龙等几家掌握此技术，高密封结构，IP67高防护等级，耐高低温环境，耐振动，且能够有

大深方型光电传感器DS-GD11替换松下CX-424漫反射红外光检测距离：100mm 大深方型光电传感器DS-GD11P替换松下CX-424-P 大深方型光电传感器DS-GD12替换松下CX-421漫反射红外光检测距离：300mm 大深方型光电传感器DS-GD12P替换松下CX-421-P 大深方型光电传感器DS-GD14替换松下CX-422漫反射红外光检测距离：800mm 大深方型光电传感器DS-GD14P替换松下CX-422-P 大深方型光电传感器DS-GD15替换欧姆龙E3Z-D62漫反射红外光检测距离1000mm 大深方型光电传感器DS-GD15P替换欧姆龙E3Z-D82

面膜从生产到包装，会将面膜折叠、灌装、堆叠并装入盒中。这个过程中都需要传感器精准检测传送带上的面膜位置及厚度，以确保面膜数量的一致性。 大深光纤传感器优势 非接触式测量：大深光纤传感器采用非接触式测量方式，避免机械接触带来的磨损和误差，延长设备的使用寿命。 高精度：大深光纤传感器具有极高检测精度，能够准确感知面膜厚度的微小变化，确保张数的准确性和一致性。 抗干扰能力强：大深光纤传感器具有良好抗电磁干扰

大深传感凭借深厚的行业积淀、卓越的表现和出色的综合实力荣膺“年度优秀产品”奖项，强劲的自主创新实力为公司荣誉榜再添亮丽的一笔。

大深传感凭借深厚的行业积淀、卓越的表现和出色的综合实力荣膺“年度优秀产品”奖项，强劲的自 主创新实力为公司荣誉榜再添亮丽的一笔。

大深传感DS-A/AL系列光栅传感器产品优势 1、根据最小检测物体的大小不同选择 2、采用国外先进光同步核心技术，工作稳定灵敏，抗电磁干扰能力强，对光简易支持分立供电，接线简单 3、采用CPU自检技术，确保当光栅本身出现故障(比如电压不足、线缆断裂、接触不良、光源不足)的情况下，不向所控制的设备发出错误的信号，确保安全采用独立OSSD输出，可在光栅进行信号输出时进行自我检测，准确识别外部干扰及内部故障，使其在防止自我故障方面

大深方型光电传感器DS-GD11替换欧姆龙E3Z-D61漫反射红外光，检测距离：100mm 大深方型光电传感器DS-GD11P替换欧姆龙E3Z-D81 大深方型光电传感器DS-GD11替换松下CX-424漫反射红外光，检测距离：100mm 大深方型光电传感器DS-GD11P替换松下CX-424-P 大深方型光电传感器DS-GD12替换松下CX-421漫反射红外光，检测距离：300mm 大深方型光电传感器DS-GD12P替换松下CX-421-P 大深方型光电传感器DS-GD14替换松下CX-422漫反射红外光，检测距离：800mm 大深方型光电传感器DS-GD14P替换松下CX-

在工控现场，当工作人员或其肢体进入设备或者某个工作区域内操作或维修时，正在运行的机器可能对他造成伤害！这就需要安全门开关来保护人工安全！安全门开关作为保障工业生产中设备和人员安全的重要装置，一直被得到广泛的应用。大深安全门开关系列型号丰富，操作简便，可满足不同使用条件和需求，达到更好的安全锁定效果，为工业安全提供更科学的解决方案！

大深线光斑传感器能够轻松应对不同工况如颜色复杂的PCB板，或者焊接件凹凸不平的PCB板，实现高效、准确的检测。 大深DS-GLSL31线光斑传感器在稳定检测镂空物体方面展现出了显著的优势。其独特的设计、先进的技术和广泛的应用前景使其成为解决镂空物体检测难题的理想选择。

光电开关的L、D、I在光电传感器领域中具有特定的含义，但需要注意的是，并不是所有光电开关都会同时包含L、D、I这三个标识。以下是对L、D、I在光电开关中可能含义的详细解释： L L在光电开关中通常代表“Light-On”或“Light”（亮），指的是光电开关在光线照射到其接收端时能够正常工作或产生输出信号的状态。具体来说： 亮通（Light-On）：当光电开关设置为L模式时，它处于亮通状态。这意味着光电开关在光线照射到其接收端时才能正常工作。如

大深方型光电传感器DS-GLS22替换欧姆龙E3Z-LS61 背景抑制红色光，检测距离：200mm 大深方型光电传感器DS-GLS22P替换欧姆龙E3Z-LS81 大深方型光电传感器DS-GLS31替换E3Z-LL61 背景抑制，NPN，激光，检测距离：20-300mm 大深方型光电传感器DS-GLS31P替换E3Z-LL81 背景抑制，PNP，激光，检测距离：20-300mm

大深漫反射光电传感器在稳定检测透明物体方面表现出色，这得益于其独特的设计和先进的技术。以下是对大深漫反射光电传感器稳定检测透明物体的详细分析： 一、透明物体检测的挑战 透明物体由于透光率高、反射率低且形态复杂多样，给传统光电传感器的检测带来了很大的挑战。传统光电传感器的光束容易穿透透明材料，导致检测结果不可靠。 二、大深漫反射光电传感器的优势 独特算法：大深漫反射光电传感器采用独特算法，能够区分自身信

电源连接差异 NPN传感器：通常将输出端连接到电源负极（GND），因此常用于低电平触发电路。 PNP传感器：将输出端连接到电源正极（VCC），因此常用于高电平触发电路。

漫反射 大深方型光电传感器DS-GD11替换欧姆龙E3Z-D61漫反射红外光，检测距离：100mm 大深方型光电传感器DS-GD11P替换欧姆龙E3Z-D81 大深方型光电传感器DS-GD11替换松下CX-424漫反射红外光，检测距离：100mm 大深方型光电传感器DS-GD11P替换松下CX-424-P 大深方型光电传感器DS-GD12替换松下CX-421漫反射红外光，检测距离：300mm 大深方型光电传感器DS-GD12P替换松下CX-421-P 大深方型光电传感器DS-GD14替换松下CX-422漫反射红外光，检测距离：800mm 大深方型光电传感器DS-GD14P替

大深光栅传感器在安全防护领域具有广泛的应用，主要体现在以下几个方面： 一、精准区域监测 光栅传感器能够设定特定的检测区域，一旦有物体进入或离开该区域，传感器会立即发出信号。这种特性使得光栅传感器在安全防护中能够实现对危险区域的精准监测，有效防止未经授权的人员或物体进入，从而保障人员和设备的安全。 二、高速响应与稳定性 光栅传感器具有高速响应的特点，能够迅速捕捉到物体的动态变化，并作出相应反应。同时，其

大深方型光电传感器作为工业级传感器的重要组成部分，凭借其独特的优势在多个领域得到了广泛应用。以下是对大深方型光电传感器的简单介绍： 一、产品概述 大深方型光电传感器是一种采用方形设计的光电检测装置，它利用光电效应进行非接触式检测，具有高精度、高速度、抗干扰等特点。该产品系列包括多种型号，如DS-GT系列（对射型）、DS-GD系列（漫反射型）、DS-GR系列（回归反射型）、DS-GLS系列（背景抑制型）等，以满足不同场景和需求下

大深方型光电传感器作为工业级传感器的重要组成部分，凭借其独特的优势在多个领域得到了广泛应用。以下是对大深方型光电传感器的简单介绍： 一、产品概述 大深方型光电传感器是一种采用方形设计的光电检测装置，它利用光电效应进行非接触式检测，具有高精度、高速度、抗干扰等特点。该产品系列包括多种型号，如DS-GT系列（对射型）、DS-GD系列（漫反射型）、DS-GR系列（回归反射型）、DS-GLS系列（背景抑制型）等，以满足不同场景和需求下

IC外观检测是对芯片外部的特征、标识、尺寸等进行检测的过程，也是保证IC质量和性能的重要手段。人工检测和自动化检测两种方式各有优劣，根据具体需求选择合适的方式进行IC外观检测。为帮助大家深入了解，以下内容由创芯检测网整理，提供给您参考。 IC外观检测的原理基于计算机视觉和图像处理技术，通过对IC外观图像进行预处理、特征提取和匹配等操作，实现对IC外观的自动化检测。具体来说，IC外观检测通常分为以下几个步骤： 图像获取

芯片的关键性功能测试通常是在生产过程中执行的，不同的芯片类型可能需要进行不同的测试，以确保芯片能够按照规格书中的要求正常工作。 常见的芯片关键性功能测试： 功耗测试：测试芯片在各种工作负载下的功耗消耗情况。这有助于验证芯片的电源管理功能。 时序测试：测试芯片内部各个电路的时序。这有助于确保芯片的时钟和同步电路能够按照要求工作。 电性能测试：测试芯片的电学特性，如电压、电流、电阻等。这有助于确定芯片的最

焊接过程中的外观检查可以用来评估焊接质量和确定是否存在缺陷。主要根据具体情况和相关标准规范进行，这些检查通常由有经验的焊接检查员进行，他们将使用各种工具，如放大镜、钢尺、卡尺、角度测量器等来进行检查。这些要求和标准规范可以根据不同的焊接方法、材料和应用领域而有所不同。 常见的焊接外观检查有： 焊缝外观：焊缝应该均匀，连续且光滑，不应有裂缝、气孔、夹渣、咬边等缺陷。 焊缝形状：焊缝的形状应符合设计要求，

电子元器件是电子产品中不可或缺的部分，其品质直接关系到整个电子产品的质量和可靠性。IC外观自动检测是一种对IC外观质量进行自动化检测的技术。它能够实现对IC外观的自动化检测、分类、筛选等功能，提高IC外观质量检测的准确性和效率，保证IC产品的质量。 IC外观自动检测技术主要应用于IC制造过程中的品质控制和检验阶段。由于IC产品种类繁多、生产过程复杂，传统的人工检测方法存在准确率低、效率低等问题，无法满足现代IC制造的需求

电器电子产品在使用过程中，常常需要在高温和低温环境下工作，因此对于电器电子产品的高低温检测显得尤其重要。高低温检测可以帮助产品确定适合的使用环境，评估产品在不同温度环境下的性能，确保产品的可靠性和稳定性。以下是一些关于电工电子产品高低温检测的资讯。 1.检测方法 电工电子产品高低温的检测通常采用模拟环境加速老化实验或者高低温测试仪的测试方法。通过模拟加速老化实验可以在较短时间内模拟产品长时间使用过程中

RoHS 是指欧盟委员会于 2003 年颁布的《关于在电子电气设备中限制使用某些有害物质的指令》(Restriction of the Use of Certain Hazardous Substances in Electronic and Electrical Equipment)。该指令要求在欧洲市场上销售的电子电气设备中限制使用某些有害物质，其中包括六价铬。 六价铬是一种有害物质，可能对人体的神经系统、皮肤和呼吸道造成伤害。在电子产品中，六价铬可能存在于涂层、涂料、印刷油墨、粘合剂等材料中。因此，检测电子产品中的六价铬含量非常重

陶封、塑封、COB

元器件是电子产品中不可或缺的部分，而元器件的识别和测量是电子工程师和研究人员在研发和制造电子产品时必不可少的工作。本文将介绍元器件的识别及测量仪器的使用。 一、元器件的识别 元器件的识别是电子产品研发和制造过程中的一项重要工作，主要包括以下几个方面： 1. 外观识别：通过观察元器件的外形、颜色、标志等特征，识别元器件的类型和品牌等信息。 2. 标识识别：通过查找元器件上的标识信息，例如型号、规格、生产日期等，

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的电子显微镜，可以用于对样品表面进行高分辨率成像和化学分析。SEM的原理是利用电子束与样品表面的相互作用，产生二次电子或背散射电子信号，通过探测器进行信号检测和成像。SEM具有高分辨率、高灵敏度、高深度分辨率和化学分析等优点，广泛应用于材料科学、生物学、地质学、电子学等领域。 SEM的工作原理是利用电子束与样品表面的相互作用，产生二次电子或背散射电子信号，

冲击系数是指材料在受到冲击载荷作用下的变形量与载荷之比。冲击系数是衡量材料抵抗冲击载荷的能力的重要指标之一。影响冲击系数大小的因素很多，下面我们将围绕这个问题进行详细的介绍。 1. 材料的物理性质 材料的物理性质是影响冲击系数大小的重要因素之一。材料的密度、弹性模量、屈服强度、断裂韧性等物理性质都会影响冲击系数的大小。一般来说，密度越大、弹性模量越大、屈服强度越高、断裂韧性越好的材料，其冲击系数也会越大

在机械冲击测试中，通常会测量机械系统在受到冲击后的振动、位移、应力和变形等参数，以评估机械系统的耐受能力和稳定性。同时，还可以观察机械系统的零部件和结构是否出现裂纹、变形、断裂等现象，以评估机械系统的安全性和可靠性。下面将详细介绍机械冲击试验的目的和意义。 1. 评估物体的抗冲击性能 机械冲击试验的主要目的是评估物体的抗冲击性能。通过模拟物体在运输、储存、使用等环境下所受到的冲击，可以测试物体的抗冲击性

元器件DPA（Destructive Physical Analysis）检测是一种通过对元器件进行物理分析，确定其失效的原因和机理的方法。在电子产品制造和维修过程中，元器件的失效可能会导致整个电路的失效，影响整个电子产品的性能和可靠性。因此，对于元器件的DPA检测显得尤为重要。 元器件DPA检测可以在多个环节进行，以下是其中几个主要的环节： 1. 设计和开发阶段 在设计和开发阶段，制造商需要对设备进行全面的安全评估和测试。元器件DPA检测是一种重要的测试方

芯片的开短路测试是一种检测芯片内部电路是否存在开路或短路的故障的方法。开路是指电路中某一点或某一段没有连接，导致电流无法通过。短路是指电路中两个不应该相连的点或段连接在一起，导致电流分流或过大。这些故障可能是由于芯片的设计缺陷、制造缺陷、外界因素等造成的，会影响芯片的性能和可靠性。 芯片引脚短路和开路是两种常见的故障现象，它们分别代表了不同的问题： 1.芯片引脚短路：这是最常见的现象之一，通常发生在芯

集成电路（IC）芯片作为电子设备的核心组件，其性能优劣直接决定了整体产品的质量和可靠性。因此，在生产、使用和维修过程中，对IC芯片进行全面细致的测试至关重要。以下将详细介绍用于检测IC芯片好坏的主要测试项目： 1. 静态参数测试 直流参数测试：包括电源电压、接地电阻、输入泄漏电流、输出高电平和低电平、阈值电压等基本电气特性测量。这些测试能初步判断芯片的基本功能是否正常。 工作点（静态工作点）测试：检查IC在无信号输

近年来，随着微电子技术、航天技术和精密仪器制造等领域对器件可靠性和质量要求的不断提升，粒子碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection，简称PIND）试验作为一种精密无损检测手段，正受到越来越多的关注和应用。本文将深入探讨PIND试验的基本原理、实施过程及其在实际工程领域的重要价值。 粒子碰撞噪声检测（PIND）试验是一种基于声学原理进行微粒缺陷检测的技术，主要用于检查封装在电子组件内部，尤其是航天器和军事装备中使用的集成

2024宁波智博会 第十四届智慧城市与智能经济博览会 时间：2024年9月6日-8日 地点：宁波国际会展中心 展位：智能传感产业集群展区 第24届投洽会中国国际工业互联网创新展 时间：2024年9月8日-11日 地点：厦门国际会展中心 展位：A4馆A4046 第24届中国国际工业博览会CIIF 时间：2024年9月24日-28日 地点：国家会展中心(上海)

回流焊是一种常见的表面贴装技术，广泛应用于电子制造行业。在回流焊工艺中，常常会出现一些问题，如焊点不良、元器件损坏等，这些问题可能会影响产品质量和生产效率。本文将介绍回流焊工艺中常见的问题、其原因和解决方法，以帮助读者更好地理解和应对这些问题。 一、焊接不良的连接 1.问题描述：焊接后的连接出现不良，如冷焊、断焊、漏焊等。 2.可能的原因： a. 温度不合适：焊接温度过高或过低都可能导致焊接不良。 b. 焊接时间不足

半导体器件的可靠性和性能稳定性是电子产品成功的关键。由于半导体器件的种类繁多，市场上存在着各种各样的产品，因此在选购时需要进行一系列的筛选。本文将介绍半导体器件的主要筛选项目，帮助读者更好地了解如何选择适合自己需求的半导体器件。无论是从性能指标、可靠性、成本还是供应链等方面考虑，正确的筛选方法都能够确保我们选择到最合适的半导体器件，以满足我们的实际应用需求。 测试性筛选测试性筛选主要关注器件的关键