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童鞋们,谁可以做SEM和TEM的测试 私聊我一下吧 求助 万

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童鞋们,谁可以做SEM和TEM的测试 私聊我一下吧 求助 万分感谢


IP属地:山东来自iPhone客户端1楼2020-04-07 10:28回复
    您好,需要扫描电镜测试(SEM),聚焦离子束(FIB) ,X射线能谱(eds)测试的可以联系我。QQ:3154249982


    来自Android客户端7楼2021-07-16 09:42
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      2025-08-02 03:09:34
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      .PCB微切片 金相切片
      样品的切片分析属于破坏性实验,利用砂纸(或钻石砂纸)作研磨,加上后续抛光,可处理出清晰的样品剖面,是一种快速的样品制备方法,处理样品搭配相应的检测设备(光学显微镜或扫描电子显微镜)可以观察样品的剖面结构。
      2.电路板氩离子研磨抛光
      离子研磨在金相切片的基础上再精修,氩离子研磨抛光来制样,优化金相研磨导致的机械应力划痕损伤,切片分析主要用于检查PCB内部走线厚度、层数,通孔孔径大小,通孔质量观察,用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等等。切片分析是进行PCB/PCBA失效分析的重要技术,切片质量将直接影响失效部位确认的准确性。 传统的金相制样方式已经不能满足PCB分析的需要,所以需要用离子研磨的方式提高PCB 切片制样质量。

      金鉴实验室提供 电路板氩离子研磨抛光

      PCB微切片制样分析 联系肖工 :13503029163
      3.聚焦离子束FIB定点切割
      在FIB-SEM 下对电路板指定位置进行微观切格,观察盲孔,PCB晶粒等分析。

      聚焦离子束FIB定点切割 电路板 ( 图片局部已做马赛克处理 )
      除了一般IC结构观察外,PCB、PCBA和LED等各种半导体行业的样品都可以通过此方法进行样品剖面观察。
      随着产业的发展需要,传统的金相制样方式已经不能满足PCB微孔分析的需要,所以需要用离子研磨 、FIB切割等方式提高PCB切片制样质量。

      传统金相切片导致样品表面形变 影响分析

      机械抛光的缺点
      PCB电路板微切片分析意义
      切片分析主要用于检查PCB内部走线厚度、层数,通孔孔径大小,通孔质量观察,用于检查PCBA焊点内部空洞,界面结合状况,润湿质量评价等等。切片分析进行PCB/PCBA失效分析的重要技术,切片质量将直接影响失效部位确认的准确性。
      PCB/PCBA的失效模式:


      8楼2021-08-19 11:44
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